CEMAP

O Institutu
eNoviceIJS

Znotraj inštituta

Raziskovalni odseki
Centri
Službe in podporne dejavnosti

Stefan.jpg


CENTER ZA ELEKTRONSKO MIKROSKOPIJO IN ANALIZO POVRŠIN (CEMAP)

Vodja centra
Prof. dr. Miran Čeh, miran.ceh@ijs.si
Telefon: (01) 477 33 41, GSM: (041) 743 265
Faks: (01) 477 32 21

Moderne metode elektronske mikroskopije in mikroanalize ter metode za analizo površin so nepogrešljive pri preiskavah in razvoju sodobnih materialov, saj omogočajo strukturno in kemijsko karakterizacijo na mikrometrskem, nanometrskem in atomskem nivoju. Implementacija in razvoj tovrstnih analitskih metod je zato nujen prvi pogoj v vseh raziskovalnih in razvojnih institucijah, ki se ukvarjajo z raziskavami in razvojem materialov.

Karakterizacija materialov z metodami elektronske mikroskopije, mikroanalize in analize površin zahteva drago instrumentalno opremo, z dragim vzdrževanjem in visoko specializiranim kadrom. Zato se je že zelo kmalu pokazala nuja po ustanovitvi infrastrukturnega centra, ki bi združeval kadre in veliko opremo z namenom boljšega izkoriščanja opreme in večje dostopnosti do nje. Tako je MZT s sklepom ministra dne 17.11.1992 zagotovilo del sredstev za ustanovitev in delovanje nacionalnega infrastrukturnega Centra za elektronsko mikroskopijo in analizo površin (CEMAP), ki se pretežno ukvarja s karakterizacijo anorganskih materialov. Center za elektronsko mikroskopijo in analizo površin sestavljajo tri enote, ki združujejo raziskovalno opremo in strokovnjake na področju mikrostrukturne in površinske analize materialov, aktivnosti Centra pa izvajajo številne programske skupine in raziskovalci v okviru odsekov IJS. Center sestavljajo naslednje tri enote:

1. Center za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo CEMM

2. Laboratorij za vrstično tipalno mikroskopijo LVTM, Odsek za fiziko trdne snovi (F5)

3. Laboratorij za analizo površin in tankih plasti LAPTP, Odsek za tehnologijo površin in optoelektroniko (F4)

Raziskovalna oprema, ki jo združuje nacionalni Center za elektronsko mikroskopijo in analizo površin (CEMAP), je pomembna raziskovalna oprema za karakterizacijo anorganskih materialov v Republiki Sloveniji z metodami elektronske mikroskopije in površinskih analitskih metod. Številni uporabniki opreme (več kot 100) in njena visoka izkoriščenost dodatno potrjujeta upravičenost nakupov ter velik interes raziskovalnih skupin za njen obstoj in nadaljnji razvoj.

Glavne naloge Centra so:

1. zagotavljanje operativnosti opreme

2. izobraževanje kadrov (operaterjev)

3. uvajanje novih analitskih metod

4. servisne storitve

5. raziskovalna dejavnost


Institut "Jožef Stefan", Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenija, Telefon: (01) 477 39 00, Faks.: (01) 251 93 85
info@ijs.si