LVTM

O Institutu
ijs.si/novice

Raziskovalni odseki
Centri
Službe in podporne dejavnosti

[PRIPNI]


LABORATORIJ ZA VRSTIČNO TIPALNO MIKROSKOPIJO(LVTM)

Vodja centra
dr. Erik Zupanič, erik.zupanic@ijs.si
Telefon: (01) 477 35 52

Laboratorij za vrstično tipalno mikroskopijo (LVTM) združuje raziskovalno opremo za pripravo in analizo različnih površin, ki je nujna za izvajanje razvojno-raziskovalnega dela odsekov IJS.

V laboratoriju je več ultravisokovakuumskih sistemov z vrstično tunelsko mikroskopijo (Scanning tunneling microscopy - STM), kombinirano napravo za spektroskopijo Augerjevih elektronov (Auger electron spectroscopy - AES) in uklonom nizkoenergijskih elektronov (low-energy electron diffraction - LEED) ter različno opremo za in-situ čiščenje in prirpavo vzorcev.

STM je izredno zmogljiva metoda, ki omogoče vpogled v kristalno in elektronsko strukturo površin v realnem prostoru in v realnem času. Je nepogrešljivo orodje znanosti o površinah, saj omogoča poleg slikanja površin kovin in polprevodnikov z (pod)atomsko ločljivostjo ter meritev elektronske strukture vzorca pod konico z veliko energijsko ločljivostjo tudi kontrolirano manipulacijo posameznih osnovnih gradnikov snovi – atomov in molekul.

Z AES preučujemo kemijsko sestavo, z LEED pa kontroliramo kristalno strukturo površine. Obe metodi sta občutljivi za površine in zaradi svoje relativne nezahtevnosti največkrat uporabljeni kot metodi za oceno kvalitete pripravljene površine.


Institut "Jožef Stefan", Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenija, Telefon: (01) 477 39 00, Faks.: (01) 251 93 85
info@ijs.si